Про­чи­тай­те текст и вы­пол­ни­те за­да­ния 14 и 15.

Масс-спек­тро­мет­рия  — это метод ис­сле­до­ва­ния ве­ще­ства, ос­но­ван­ный на раз­де­ле­нии раз­лич­ных по массе и пред­ва­ри­тель­но иони­зи­ро­ван­ных мо­ле­кул и опре­де­ле­нии от­но­ше­ния массы к за­ря­ду ионов. Со­вре­мен­ные масс-спек­тро­мет­ры (рис. 1) поз­во­ля­ют уста­но­вить со­став ис­сле­ду­е­мо­го ве­ще­ства и ис­поль­зу­ют­ся в самых раз­ных об­ла­стях: химии, эко­ло­гии, гео­ло­гии, кри­ми­на­лист­ке и т. д.

На рис. 2 пред­став­ле­на схема устрой­ства масс-спек­тро­мет­ра. Из ион­но­го ис­точ­ни­ка 1 уско­рен­ные ионы через щель 2 по­па­да­ют в об­ласть 3 по­сто­ян­ных и од­но­род­ных элек­три­че­ско­го и маг­нит­но­го полей. На­прав­ле­ние элек­три­че­ско­го поля между пла­сти­на­ми кон­ден­са­то­ра по­ка­за­но стрел­ка­ми. Маг­нит­ное поле под­би­ра­ет­ся таким об­ра­зом, чтобы ионы дви­га­лись рав­но­мер­но и пря­мо­ли­ней­но.

Ион не от­кло­ня­ет­ся от на­прав­ле­ния дви­же­ния и про­хо­дит через вто­рую щель 4, по­па­дая в об­ласть 5 од­но­род­но­го и по­сто­ян­но­го маг­нит­но­го поля c ин­дук­ци­ей на­прав­лен­ной пер­пен­ди­ку­ляр­но плос­ко­сти ри­сун­ка. В маг­нит­ном поле ион дви­жет­ся по окруж­но­сти 6, ра­ди­ус R ко­то­рой прямо про­пор­ци­о­на­лен от­но­ше­нию массы иона к его за­ря­ду:

В ка­че­стве де­тек­то­ра ионов 7 можно ис­поль­зо­вать фо­то­пла­стин­ку, хотя в со­вре­мен­ных масс-спек­тро­мет­рах в ка­че­стве де­тек­то­ров обыч­но ис­поль­зу­ют элек­трон­ные умно­жи­те­ли или мик­ро­ка­наль­ные пла­стин­ки.